发明名称 一种锑化镓单晶片的钝化方法
摘要 本发明公开了一种锑化镓单晶片的钝化方法。其步骤是:抛光之后将陶瓷盘取下,使用去离子水对陶瓷盘喷淋,喷淋时间在10-30s;喷淋后将陶瓷盘直接浸入硫化铵溶液中;溶液温度为5-30℃;溶液用量为液面没过锑化镓单晶片表面5-10mm;钝化时长为20-120s;钝化结束后将陶瓷盘取出,用去离子水冲洗,用压缩空气吹干后,准备进行下一步的清洗工艺。采用硫化铵溶液对抛光结束后的锑化镓晶体表面进行钝化处理,可以以较快的速率在晶片表面形成数个纳米厚的硫化物钝化层。这一硫化层分布均一,在空气中化学性质稳定,不会与氧气自发作用,在较长的时间尺度上保持了化学成分的固定,大大提高了成品锑化镓晶片的表面电学性能。
申请公布号 CN105070655A 申请公布日期 2015.11.18
申请号 CN201510414951.8 申请日期 2015.07.15
申请人 中国电子科技集团公司第四十六研究所 发明人 卢伟涛;李晖;徐永宽;程红娟
分类号 H01L21/306(2006.01)I 主分类号 H01L21/306(2006.01)I
代理机构 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人 王凤英
主权项 一种锑化镓单晶片的钝化方法,其特征在于,化学机械抛光之后,将载有锑化镓单晶片的陶瓷盘取下,迅速使用去离子水对陶瓷盘进行喷淋,喷淋时间控制在10‑30s;喷淋结束后,将陶瓷盘直接浸入硫化铵溶液中;硫化铵溶液温度为5‑30℃;硫化铵溶液用量为液面没过锑化镓单晶片表面5‑10mm;钝化时长为20‑120s;钝化工艺结束后将陶瓷盘取出,用去离子水冲洗,直至残留的硫化铵溶液全部洗净;用压缩空气吹干后,准备进行下一步的清洗工艺。
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