发明名称 |
多点测厚装置及其使用方法 |
摘要 |
本发明的实施方式涉及一种测厚装置,更具体地,本发明的实施方式涉及多点测厚装置及其使用方法。包括传感器,活动架,主体,数据采集控制装置,其特征在于传感器至少有2个,活动架包括使传感器上下直线运动的活动部件和用于固定传感器的水平支架,传感器设置在水平支架上,活动架滑动连接在主体上,主体包括机架和用于放置待测片材的基座,传感器与数据采集控制装置之间通过有线或无线方式进行信号连接。本发明的有益效果是:能对表面不光滑或表面密布微孔和凹坑的片材进行测量厚度,也适用于具有一定弹性的片材的厚度测量。操作简便,全自动化测量,机器自动读数减少人为误差,一次进行多点测量,精确,效率高。 |
申请公布号 |
CN103148822B |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201310036141.4 |
申请日期 |
2013.01.30 |
申请人 |
中国工程物理研究院化工材料研究所 |
发明人 |
王晓英;董明;赵维;张长生;范玉德;石耀刚;鲍延年;魏智勇;王建华;陆蔺辉 |
分类号 |
G01B21/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01B21/08(2006.01)I |
代理机构 |
四川省成都市天策商标专利事务所 51213 |
代理人 |
刘兴亮 |
主权项 |
一种多点测厚装置的使用方法,所述多点测厚装置包括传感器,活动架,主体,数据采集控制装置,所述传感器至少有2个,活动架包括使传感器上下直线运动的活动部件和用于固定传感器的水平支架,传感器设置在水平支架上,活动架滑动连接在主体上,主体包括机架和用于放置待测片材的基座,传感器与数据采集控制装置之间通过有线或无线方式进行信号连接,所述水平支架上有供传感器在水平方向上移动的滑槽,所述传感器上有卡件,用于固定传感器在水平支架滑槽中的位置,其特征在于通过以下步骤进行厚度测量:活动架向下移动,使传感器处于基准位,每个传感器与基座充分接触,产生压缩位移,数据采集控制装置自动记录每个传感器此时压缩的位移值,测得数据后,活动架向上抬起;将待测片材放在基座上,活动架向下移动,使传感器处于基准位,每个传感器与待测片材充分接触产生压缩位移,数据采集控制装置自动记录每个传感器此时压缩的位移值,活动架向上抬起;将每个传感器记录的两次位移值数据相减,所得结果的绝对值即为待测片材每个测厚点的厚度。 |
地址 |
621000 四川省绵阳市绵山路64号 |