| 发明名称 | 用于无损测试系统的参考速度测量 | ||
| 摘要 | 一种系统包括具有NDT探头和处理器的无损测试(NDT)系统。NDT探头包括测试传感器和运动传感器。测试传感器配置成从检查区捕获传感器数据，以及运动传感器配置成检测NDT探头相对于检查区移动的测量速度。处理器配置成确定测量速度与参考速度范围之间的速度比较。 | ||
| 申请公布号 | CN105074453A | 申请公布日期 | 2015.11.18 |
| 申请号 | CN201380074077.7 | 申请日期 | 2013.12.12 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | S.L.斯比利;J.H.梅辛格尔;F.X.德弗罗蒙特;R.C.沃德 |
| 分类号 | G01N29/22(2006.01)I;G01N29/32(2006.01)I;G01N27/90(2006.01)I;G01N29/265(2006.01)I;G01N29/27(2006.01)I;G01N29/275(2006.01)I;G01N21/89(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 叶晓勇;刘春元 |
| 主权项 | 一种系统，包括：无损测试(NDT)系统，包括：DNT探头，包括测试传感器和运动传感器，其中所述测试传感器配置成从检查区捕获传感器数据，以及所述运动传感器配置成检测所述NDT探头相对于所述检查区移动的测量速度；以及处理器，配置成确定所述测量速度与参考速度范围之间的速度比较。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||