发明名称 |
绝缘子密封性检测系统及方法 |
摘要 |
本发明涉及一种绝缘子密封性检测系统及方法,包括绝缘子和紫外光源,所述绝缘子的空腔内通有带有荧光粉微小颗粒的空气,所述荧光粉颗粒均匀分散在空气中,荧光粉颗粒粒径为0.2~2.0μm;所述紫外光源分布在绝缘子外围,所述绝缘子一端封闭,另一端设有进气口。本发明的紫外荧光粉具有很好的飘逸性,能够随空气均匀散布在各个角落,可以对狭小空间及隐蔽的区域进行检漏,且紫外荧光粉的粒径越小,可检测的漏点尺寸越小;本发明的检漏方法能够对漏点进行准确定位,且直观明显。本发明通过荧光效应达到检测是否存在泄漏的目的,具有操作简单、工作量小、安全可靠、检测效果好、成本低等优点。 |
申请公布号 |
CN105043683A |
申请公布日期 |
2015.11.11 |
申请号 |
CN201510470208.4 |
申请日期 |
2015.08.04 |
申请人 |
浙江工商大学 |
发明人 |
王秀萍;王宝根 |
分类号 |
G01M3/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01M3/20(2006.01)I |
代理机构 |
杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 |
代理人 |
王桂名 |
主权项 |
一种绝缘子密封性检测系统,其特征在于包括绝缘子和紫外光源,所述绝缘子的空腔内通有带有荧光粉微小颗粒的空气,所述荧光粉颗粒均匀分散在空气中,荧光粉颗粒粒径为0.2~2.0μm;所述紫外光源分布在绝缘子外围,所述绝缘子一端封闭,另一端设有进气口。 |
地址 |
310018 浙江省杭州市江干区下沙高教园区学正街18号 |