发明名称 绝缘子密封性检测系统及方法
摘要 本发明涉及一种绝缘子密封性检测系统及方法,包括绝缘子和紫外光源,所述绝缘子的空腔内通有带有荧光粉微小颗粒的空气,所述荧光粉颗粒均匀分散在空气中,荧光粉颗粒粒径为0.2~2.0μm;所述紫外光源分布在绝缘子外围,所述绝缘子一端封闭,另一端设有进气口。本发明的紫外荧光粉具有很好的飘逸性,能够随空气均匀散布在各个角落,可以对狭小空间及隐蔽的区域进行检漏,且紫外荧光粉的粒径越小,可检测的漏点尺寸越小;本发明的检漏方法能够对漏点进行准确定位,且直观明显。本发明通过荧光效应达到检测是否存在泄漏的目的,具有操作简单、工作量小、安全可靠、检测效果好、成本低等优点。
申请公布号 CN105043683A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510470208.4 申请日期 2015.08.04
申请人 浙江工商大学 发明人 王秀萍;王宝根
分类号 G01M3/20(2006.01)I 主分类号 G01M3/20(2006.01)I
代理机构 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人 王桂名
主权项 一种绝缘子密封性检测系统,其特征在于包括绝缘子和紫外光源,所述绝缘子的空腔内通有带有荧光粉微小颗粒的空气,所述荧光粉颗粒均匀分散在空气中,荧光粉颗粒粒径为0.2~2.0μm;所述紫外光源分布在绝缘子外围,所述绝缘子一端封闭,另一端设有进气口。
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