发明名称 一种整体堆叠封装结构及其制作方法
摘要 本发明公开了一种整体堆叠封装结构及其制作方法,在下层封装基板的下表面焊接有第二锡球,在下层封装基板的上表面通过底填料倒装有第二芯片,在第二芯片外侧位置的下层封装基板的上表面焊接有第三锡球,在下层封装基板的上方设有上层封装基板,在上层封装基板的下表面焊接有第一锡球,第一锡球与第三锡球焊接在一起,在上层封装基板与下层封装基板之间设有第二塑封体,在上层封装基板的上表面正装有第二芯片,第二芯片与上层封装基板通过引线相连,在上层封装基板上设有第一塑封体,第一塑封体将第二芯片与引线整体封装。本发明工艺流程步骤较少,工艺简单;由于采用上下整体拼板单次塑封,其生产效率较高,成本随之降低。
申请公布号 CN105047617A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510313834.2 申请日期 2015.06.09
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 徐健
分类号 H01L23/13(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I 主分类号 H01L23/13(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅;涂三民
主权项 一种整体堆叠封装结构,其特征是:它包括下层封装基板(1)、第二锡球(2)、第二芯片(3)、底填料(4)、第二塑封体(5)、上层封装基板(6)、第一芯片(7)、第一塑封体(8)、引线(9)、第一锡球(10)与第三锡球(11);在下层封装基板(1)的下表面焊接有第二锡球(2),在下层封装基板(1)的上表面通过底填料(4)倒装有第二芯片(3),在第二芯片(3)外侧位置的下层封装基板(1)的上表面焊接有第三锡球(11),在下层封装基板(1)的上方设有上层封装基板(6),在上层封装基板(6)的下表面焊接有第一锡球(10),第一锡球(10)与第三锡球(11)焊接在一起,在上层封装基板(6)与下层封装基板(1)之间设有第二塑封体(5),在上层封装基板(6)的上表面正装有第二芯片(7),第二芯片(7)与上层封装基板(6)通过引线(9)相连,在上层封装基板(6)上设有第一塑封体(8),第一塑封体(8)将第二芯片(7)与引线(9)整体封装。
地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋