一种微位移测试系统用AD转换电路

摘要

本实用新型公开了一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容和AD转换芯片，其中基准电压源芯片包括四个引脚，即第一至第四引脚，其中第一引脚和第二引脚通过第一电容连接，第三引脚与极性电容的正极连接，极性电容的负极与模拟地连接；AD转换芯片包括十个引脚，即第五至第十四引脚，其中第五引脚与极性电容的正极连接，第八引脚与模拟地连接，第六引脚与第八引脚通过第二电容连接，第十四引脚与第八引脚通过第三电容连接，第十至第十三引脚与上位机连接，第九引脚与电源地连接，其技术效果是：能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。

主权项

一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其特征在于：所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述第三电容的两端对应连接所述第八引脚和所述第十四引脚，所述第十引脚、所述第十一引脚、所述第十二引脚和所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地相连。