发明名称 |
一种无损、快速TSV结构侧壁形貌测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种无损、快速的TSV结构侧壁形貌测量方法,包括如下步骤:利用高分辨率IR显微镜,调节聚焦深度,选取多个焦平面;选定其中一焦平面,并针对该焦平面所获得的图像,获得圆心的位置;计算边缘轮廓到圆心的距离,获得该焦平面图像的边缘到圆心的距离分布;改变焦平面位置,重复步骤三,计算出每一个焦平面图像的边缘到圆心的距离分布,获得在同一个旋转角度下,边缘在深度方向到圆心的距离分布;结合步骤五所得的计算结果,得到TSV结构侧壁的三维形貌分布;通过统计计算,获得TSV结构侧壁的形貌测量。 |
申请公布号 |
CN105043297A |
申请公布日期 |
2015.11.11 |
申请号 |
CN201510584682.X |
申请日期 |
2015.09.15 |
申请人 |
中南大学 |
发明人 |
何虎;李军辉;陈卓;朱文辉 |
分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 |
长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 |
代理人 |
周志中 |
主权项 |
一种无损、快速的TSV结构侧壁形貌测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、利用高分辨率IR显微镜,调节聚焦深度,选取多个焦平面;步骤二、选定其中一个焦平面,并针对该焦平面所获得的图像,获得圆心的位置;步骤三、计算边缘轮廓到圆心的距离,获得该焦平面图像的边缘到圆心的距离分布;步骤四、改变焦平面位置,重复步骤三,计算出每一个焦平面图像的边缘到圆心的距离分布,获得在同一个旋转角度下,边缘在深度方向到圆心的距离分布;步骤五、结合步骤四所得的计算结果,得到TSV结构侧壁的三维形貌分布;步骤六、通过统计计算,获得TSV结构侧壁的形貌测量。 |
地址 |
410000 湖南省长沙市岳麓区左家垅 |