发明名称 Halbleitervorrichtung
摘要 Ein MOSFET umfasst ein Siliziumkarbid-Substrat (10) mit einer Hauptfläche (10A), die einen Abweichungswinkel in Bezug auf eine {0001}-Ebene aufweist, und eine Source-Elektrode (40), die in Kontakt mit der Hauptfläche (10A) gebildet ist. Eine Basisfläche (10C) ist in wenigstens einem Abschnitt einer Kontaktgrenzfläche des Siliziumkarbid-Substrats (10) mit der Ohmschen Elektrode (40) freigelegt. Mit einem derartigen Aufbau, wird eine Änderung der Schwellenspannung im MOSFET unterdrückt.
申请公布号 DE112013006611(T5) 申请公布日期 2015.11.05
申请号 DE20131106611T 申请日期 2013.12.19
申请人 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. 发明人 HIYOSHI, TORU;MATSUKAWA, SHINJI;YAMAMOTO, HIROFUMI
分类号 H01L21/28;H01L29/12;H01L29/417;H01L29/47;H01L29/78;H01L29/872 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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