发明名称 |
Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Ein MOSFET umfasst ein Siliziumkarbid-Substrat (10) mit einer Hauptfläche (10A), die einen Abweichungswinkel in Bezug auf eine {0001}-Ebene aufweist, und eine Source-Elektrode (40), die in Kontakt mit der Hauptfläche (10A) gebildet ist. Eine Basisfläche (10C) ist in wenigstens einem Abschnitt einer Kontaktgrenzfläche des Siliziumkarbid-Substrats (10) mit der Ohmschen Elektrode (40) freigelegt. Mit einem derartigen Aufbau, wird eine Änderung der Schwellenspannung im MOSFET unterdrückt. |
申请公布号 |
DE112013006611(T5) |
申请公布日期 |
2015.11.05 |
申请号 |
DE20131106611T |
申请日期 |
2013.12.19 |
申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. |
发明人 |
HIYOSHI, TORU;MATSUKAWA, SHINJI;YAMAMOTO, HIROFUMI |
分类号 |
H01L21/28;H01L29/12;H01L29/417;H01L29/47;H01L29/78;H01L29/872 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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