发明名称 不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法
摘要 本发明提出一种不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法,包括:提取包括不完整缺陷信息检测信号;根据基于索贝尔离散型差分算子的方法对检测信号进行识别,得到缺陷边缘;在检测信号少于完整缺陷信号的一半时,对检测信号进行对称处理,或者在检测信号多于完整缺陷信号的一半时,对检测信号的一半进行对称处理;提取关键特征量值并输入深度量化神经网络,以对缺陷深度进行估计;根据缺陷边缘和缺陷深度确定缺陷类型;根据缺陷边缘、缺陷深度以及缺陷类型得到缺陷轮廓;根据缺陷深度和缺陷轮廓对缺陷进行实时三维显示。本发明的方法能够解决在漏磁检测信号不完整的情况下无法量化并实时显示缺陷的问题,具有速度快、精度高、应用范围广的优点。
申请公布号 CN105021694A 申请公布日期 2015.11.04
申请号 CN201510382908.8 申请日期 2015.07.02
申请人 清华大学 发明人 黄松岭;赵伟;王珅;刘新萌;丁睿
分类号 G01N27/83(2006.01)I 主分类号 G01N27/83(2006.01)I
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人 张大威
主权项 一种不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:从待检测缺陷中提取检测信号,其中,所述检测信号包括不完整缺陷信息;S2:根据基于索贝尔离散型差分算子的方法对所述检测信号进行识别,以得到缺陷边缘;S3:比较所述检测信号与完整缺陷信号,并在所述检测信号少于完整缺陷信号的一半时,对所述检测信号进行对称处理,或者在所述检测信号多于所述完整缺陷信号的一半时,对所述检测信号的一半进行对称处理;S4:提取所述待检测缺陷的关键特征量值作为深度量化神经网络的输入信号,以对缺陷深度进行快速估计;S5:根据所述缺陷边缘和缺陷深度确定缺陷类型,并按照检测进度更新所述缺陷类型;S6:根据所述缺陷边缘、缺陷深度以及缺陷类型得到缺陷轮廓;以及S7:根据所述缺陷深度和所述缺陷轮廓对缺陷进行实时三维显示,并按照检测进度更新显示结果。
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