发明名称 一种缺陷区域提取方法
摘要 本发明涉及一种缺陷区域提取方法,首先对图像进行列或行的逐步扫描;扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值,则该点为可疑缺陷点;沿扫描方向扩展,分别从上下或左右方向执行边界局部搜索算法,找出上下或左右两个缺陷边界;直到上下或左右边界采到的边界点重合,提取缺陷区域;本方法在提取缺陷的过程中,仅对图像进行一次扫描运算,而且当检测到缺陷第一点之后,扫描过程就更简单,会自动紧紧沿着缺陷区域进行检测,直到缺陷区域被完整提取出来;该检测方法速度快,适用于快速边缘区域定位及实时性要求高的缺陷区域提取。
申请公布号 CN102693536B 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201210010472.6 申请日期 2012.01.13
申请人 河南科技大学 发明人 吴贵芳
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人 陈浩
主权项 一种缺陷区域提取方法,其特征在于,该方法的步骤如下:(1)对图像进行列或行的逐步扫描;(2)扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值,则该点为可疑缺陷点;(3)沿扫描方向扩展,分别从上下或左右方向执行边界局部搜索算法,找出上下或左右两个缺陷边界;(4)直到上下或左右边界采到的边界点重合,提取缺陷区域;在提取缺陷的过程中,仅对图像进行一次扫描运算,当检测到缺陷第一点之后,会自动紧紧沿着缺陷区域进行检测,直到缺陷区域被完整提取出来;对图像进行列扫描时并发上下两个边界搜索,对图像进行行扫描时并发左右两个边界搜索。
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