发明名称 |
半导体开关的保护装置以及用于运行半导体开关的保护装置的方法 |
摘要 |
本发明涉及具有改善的响应特性的、用于半导体开关的一种过电压保护装置。该保护装置除了静态部件之外另外还包含有动态部件以及对该半导体开关上的开关操作的分析装置。过电压保护的动态部件在较小的过电压时就进行响应,但此外在响应特性上是有时间限制的。另外过电压保护的动态部件的响应也可以被限制为,使得仅在该半导体开关上的开关操作之后进行响应。 |
申请公布号 |
CN104995837A |
申请公布日期 |
2015.10.21 |
申请号 |
CN201380073292.5 |
申请日期 |
2013.12.27 |
申请人 |
罗伯特·博世有限公司 |
发明人 |
P.辛恩;S.莱希 |
分类号 |
H03K17/082(2006.01)I |
主分类号 |
H03K17/082(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
张涛;胡莉莉 |
主权项 |
用于半导体开关(5)的保护装置,该保护装置具有第一过电压保护(2),该第一过电压保护被构造用于当在该半导体开关(5)上的电压(U<sub>CE</sub>)超过第一阈值时持续控制该半导体开关(5)一个预定的时长;以及第二过电压保护(1),该第二过电压保护被构造用于当在该半导体开关(5)上的电压(U<sub>CE</sub>)超过第二阈值时就控制该半导体开关(5)。 |
地址 |
德国斯图加特 |