发明名称 常压有机金属气相沉积提供p型矽晶片表面钝化之方法
摘要
申请公布号 TWI505363 申请公布日期 2015.10.21
申请号 TW101137403 申请日期 2012.10.11
申请人 中原大学 发明人 篮山明;温武义;杨承翰
分类号 H01L21/316;H01L21/324 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人 李保禄 台北市中山区长安东路2段81号6楼
主权项 一种常压有机金属气相沉积提供p型矽晶片表面钝化之方法,其步骤包含:清洗p型矽晶片基板;于一反应腔体通入由盐酸与氢气组成的第一混合气体,以1100~1200℃对该p型矽晶片基板进行热处理;再于该反应腔体通入由氧气、氮气与三甲基铝组成的乾式混合气体,于该p型矽晶片基板形成氧化铝薄膜,形成时间介于8~17分钟之间;于该反应腔体通入由氢气和氮气组成的第二混合气体,以400~500℃对该p型矽晶片基板做回火处理,5~30分钟,完成钝化的p型矽晶片基板。
地址 桃园市中坜区中北路200号