发明名称 一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法
摘要 本发明公开了一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法,采用直流磁控溅射技术。包括以下步骤:(1)准备金属钒靶、氩气和氧气气体;磁控溅射仪至少包括样品准备腔和生长腔这两个真空腔室,生长腔室抽真空至4.5×10<sup>-4</sup>Pa以下;(2)只通入Ar气体,设定溅射功率,清洗金属钒靶表面的氧化部分和一些污染物杂质;(3)衬底加热并保温10分钟左右;(4)通入氩气和氧气气体,其比率为10:1,调节真空室压强在1Pa,启动射频溅射工作源,溅射功率为40W,开始溅射;(5)薄膜生长至要求厚度后,关闭加热电源,使样品自然冷却,在此过程,打开真空阀,分子泵保持打开状态。本发明制备的薄膜具有良好的结构和电阻-温度系数。
申请公布号 CN103572209B 申请公布日期 2015.10.21
申请号 CN201310541130.1 申请日期 2013.11.05
申请人 无锡英普林纳米科技有限公司 发明人 顾正彬;张善涛;卢明辉;陈延峰
分类号 C23C14/08(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I 主分类号 C23C14/08(2006.01)I
代理机构 南京知识律师事务所 32207 代理人 李媛媛
主权项 一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法,采用直流磁控溅射技术,其特征在于,包括以下步骤:(1)采用纯度大于等于99.9%的金属钒靶,准备氩气和氧气气体;磁控溅射仪至少包括样品准备腔和生长腔这两个真空腔室,生长腔室抽真空至4.5×10<sup>‑4</sup>Pa以下;(2)靶材预溅射:只通入Ar气体,设定溅射功率,清洗金属钒靶表面的氧化部分和一些污染物杂质;(3)衬底升温到要求温度,并保温10分钟左右,以达到平衡状态,所述衬底温度低于500℃,生长窗口温度在350到450℃之间;(4)通入氩气和氧气气体,其比率为10:1,调节真空室压强在1Pa,启动射频溅射工作源,溅射功率为40W,开始溅射;(5)薄膜生长速率为200nm/h,生长至要求厚度后,关闭加热电源,使样品自然冷却,在此过程,打开真空阀,分子泵保持打开状态。
地址 214192 江苏省无锡市芙蓉中三路99号