发明名称 半导体结构及其制造方法;SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD FOR FORMING THE SAME
摘要 本揭露提供一种半导体结构之制造方法。此方法包括:提供一基底,其包括位于基底上的复数鳍结构;涂覆一第一溶液于基底上以形成一第一介电层;以及涂覆一第二溶液于第一介电层上以形成一第二介电层来覆盖鳍结构。第一溶液具有一第一黏度。第二溶液具有一第二黏度。在一些实施例中,第二黏度大于第一黏度。; coating a first solution on the substrate to form a first dielectric layer; and coating a second solution on the first dielectric layer to form a second dielectric layer to cover the fin structures. The first solution has a first viscosity. The second solution has a second viscosity. In some embodiment, the second viscosity is greater than the first viscosity.
申请公布号 TW201539573 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103145702 申请日期 2014.12.26
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 苏盈豪 SU, YING HAO;苏煜中 SU, YU CHUNG;刘宇伦 LIU, YU LUN;张岐康 CHANG, CHI KANG;刘家助 LIU, CHIA CHU;陈桂顺 CHEN, KUEI SHUN
分类号 H01L21/31(2006.01);H01L21/762(2006.01);H01L21/764(2006.01);H01L21/324(2006.01);H01L29/06(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW