发明名称 半导体发光元件之光测定装置
摘要 本发明提供一种能够使半导体发光元件确实地通电,正确且稳定地测定半导体发光元件之发光量的半导体发光元件之光测定装置。;半导体发光元件之光测定装置100具备:一探针300,其供给电力至LED20A;一光测定部120,其测定自LED发出的光之光量;以及一吸附基础部200,其具有探针300,吸附基础部200用以吸引LED。;The light measuring device 100 for semiconductor light emitting element comprises: a probe 300 for supplying an electric power to an LED 20A; a light measuring unit 120 for measuring an amount of a light emitted from the LED; a suction base 200 holding the probe 300. The suction base 200 suctions the LED.
申请公布号 TW201538935 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW104111152 申请日期 2015.04.07
申请人 日本先锋公司 PIONEER CORPORATION 发明人 新野尊嗣 NIINO, TAKATSUGU;望月学 MOCHIZUKI, MANABU;藤森昭一 FUJIMORI, SHOICHI
分类号 G01J1/02(2006.01);G01M11/00(2006.01) 主分类号 G01J1/02(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP;