发明名称 配线图案之制造方法及电晶体之制造方法;MANUFACTURING METHOD OF WIRING PATTERN AND MANUFACTURING METHOD OF TRANSISTOR
摘要 本发明之配线图案之制造方法具有以下步骤:于基板上形成镀敷基底膜之前驱物膜,该前驱物膜含有具有由光反应性之保护基保护之胺基之第1形成材料;于上述前驱物膜之表面形成由光阻材料构成之光阻层;利用所欲之图案光对上述光阻层进行曝光;利用所欲之图案光对上述前驱物膜进行曝光而形成上述镀敷基底膜;使经曝光之上述光阻层显影并且将去保护后之保护基去除;及使无电镀敷用触媒析出于露出之上述镀敷基底膜之表面。; forming a photoresist layer made of a photoresist material on a front surface of the precursor film; exposing the photoresist layer with a desired pattern light; forming the plating undercoating film to expose the precursor film with a desired pattern light; developing the exposed photoresist layer and removing a deprotected protective group; and causing a non-electrolytic plating catalyzer to separate on a front surface of the exposed plating undercoating film.
申请公布号 TW201538786 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW104106243 申请日期 2015.02.26
申请人 尼康股份有限公司 NIKON CORPORATION 发明人 小泉翔平 KOIZUMI, SHOHEI;杉敬 SUGIZAKI, TAKASHI;川上雄介 KAWAKAMI, YUSUKE
分类号 C23C18/16(2006.01);C23C18/18(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 C23C18/16(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 日本 JP
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