发明名称 |
CMP組成物及びそれを使用する方法、半導体装置の製造方法 |
摘要 |
【課題】非イオン性界面活性剤と少なくとも1つの酸基を含む芳香族化合物とを含む化学機械研磨(CMP)組成物を提供する。【解決手段】本発明の化学機械研磨(CMP)組成物(Q)は、(A)繭形状粒子である、無機粒子、有機粒子又はそれらの混合物もしくは複合物と、(B)非イオン性界面活性剤と、(C)少なくとも1つの酸基(Y)を含む芳香族化合物又はその塩と、(M)水性媒体とを含む。 |
申请公布号 |
JP2015530420(A) |
申请公布日期 |
2015.10.15 |
申请号 |
JP20150519449 |
申请日期 |
2013.06.27 |
申请人 |
ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBASF SE |
发明人 |
ライヒャルト,ロベルト;リー,ユーチュオ;ラオター,ミヒャエル |
分类号 |
C09K3/14;B24B37/00;H01L21/304 |
主分类号 |
C09K3/14 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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