发明名称 CMP組成物及びそれを使用する方法、半導体装置の製造方法
摘要 【課題】非イオン性界面活性剤と少なくとも1つの酸基を含む芳香族化合物とを含む化学機械研磨(CMP)組成物を提供する。【解決手段】本発明の化学機械研磨(CMP)組成物(Q)は、(A)繭形状粒子である、無機粒子、有機粒子又はそれらの混合物もしくは複合物と、(B)非イオン性界面活性剤と、(C)少なくとも1つの酸基(Y)を含む芳香族化合物又はその塩と、(M)水性媒体とを含む。
申请公布号 JP2015530420(A) 申请公布日期 2015.10.15
申请号 JP20150519449 申请日期 2013.06.27
申请人 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBASF SE 发明人 ライヒャルト,ロベルト;リー,ユーチュオ;ラオター,ミヒャエル
分类号 C09K3/14;B24B37/00;H01L21/304 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人
主权项
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