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Es ist ein System (40, 50, 60, 70, 80, 90) zum Abtasten einer dreidimensionalen Topologie von einer Leiterplatte (18) bereitgestellt. Eine Beleuchtungsquelle (54, 62) projiziert ein Beleuchtungsmuster von einem ersten Einfallwinkel aus. Eine erste Kamera (42a, 52a, 92a) nimmt ein Bild des strukturierten Lichtmusters auf der Leiterplatte (18) von einem zweiten Einfallwinkel aus auf. Eine zweite Kamera (42b, 52b, 92b) nimmt gleichzeitig ein Bild von dem strukturierten Lichtmuster auf der Leiterplatte (18) von einem dritten Einfallwinkel aus auf, wobei sich der dritte Einfallwinkel vom zweiten Einfallwinkel unterscheidet. Es ist eine Steuerung (66) mit der Beleuchtungsquelle (52, 62) und den zumindest zwei Kameravorrichtungen (42a, 52a, 92a; 42b, 52b, 92b) gekoppelt. Die Steuerung (66) erzeugt eine Höhentopologie von der Leiterplatte (18) basierend auf Bildern, welche von den zumindest zwei Kameravorrichtungen (42a, 52a, 92a; 42b, 52b, 92b) des Strukturlicht-Beleuchters (54, 62) aufgenommen sind. |
