摘要 |
<p>本発明は、分極された試料(2)の表面電位を測定する方法において、−圧電アクチュエータ(5)によりその共振周波数で駆動されるマイクロレバー(4)に接続された鋭い先端(3)を用いて試料の表面を走査することで、前記試料(2)のトポグラフィックプロファイル(11)を測定するステップと;−前ステップの際に得られた表面のトポグラフィックプロファイル(11)との関係において一定の距離(d)のところに前記鋭い先端(3)を置くステップと;−前記表面の静電電位(13)を測定するステップと、を含む方法であって、トポグラフィックプロファイル(11)の測定ステップの際には前記試料(2)を分極しないこと、ならびに電位プロファイル(13)の測定の際には前記試料(2)を分極すること、を特徴とする方法に関する。【選択図】図1</p> |