发明名称 | 一种系统级封装模块单粒子效应检测装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种系统级封装模块单粒子效应检测装置,包括单粒子试验板、单粒子检测板、稳压电源和远程控制终端;系统级封装SiP模块通过串口驱动电路与远程控制终端连接用于上传测试程序、功能测试命令以及功能测试结果,系统级封装SiP模块通过CAN总线与单粒子检测板进行数据交互;SRAM通过系统总线驱动电路与系统级封装SiP模块连接;所述单粒子检测板为单粒子试验板提供电源,对系统级封装SiP模块的功能和电流进行实时检测,并将检测结果通过CAN总线发送给远程控制终端;稳压电源为单粒子检测板提供一次电源输入。为SiP模块进行单粒子试验提供检测手段,实现SiP模块单粒子效应实时检测,解决地面模拟辐射环境中测量SiP模块单粒子效应的问题。 | ||
申请公布号 | CN204694817U | 申请公布日期 | 2015.10.07 |
申请号 | CN201520397334.7 | 申请日期 | 2015.06.10 |
申请人 | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 | 发明人 | 张毅;余国强;黄慧敏 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人 | 徐文权 |
主权项 | 一种系统级封装模块单粒子效应检测装置,其特征在于,包括单粒子试验板(3)、单粒子检测板(2)、稳压电源(1)和远程控制终端(4);所述单粒子试验板(3)包括被测的系统级封装SiP模块(34)、提供复位信号的第一复位电路(32)和用于运行测试软件的SRAM(36);系统级封装SiP模块(34)通过串口驱动电路(31)与远程控制终端(4)连接用于上传测试程序、功能测试命令以及功能测试结果,系统级封装SiP模块(34)通过CAN总线(21)与单粒子检测板(2)进行数据交互;SRAM(36)通过系统总线驱动电路(35)与系统级封装SiP模块(34)连接;所述单粒子检测板(2)为单粒子试验板(3)提供电源,对系统级封装SiP模块(34)的功能和电流进行实时检测,并将检测结果通过CAN总线(21)发送给远程控制终端(4);稳压电源(1)为单粒子检测板(2)提供一次电源输入。 | ||
地址 | 710068 陕西省西安市太白南路198号 |