发明名称 MEMORY CIRCUITS METHOD FOR ACCESSING A MEMORY AND METHOD FOR REPAIRING A MEMORY
摘要 복수의 메모리 요소들 - 각각의 메모리 요소는 복수의 데이터 요소들 중 하나의 데이터 요소를 저장하도록 구성됨 - , 복수의 데이터 요소들의 공동 오류 정정 정보를 저장하도록 구성된 오류 정정 정보 메모리, 각각의 메모리 요소에 대해, 메모리 요소에 저장된 데이터 요소에 대한 오류 검출 정보를 저장하는 오류 검출 정보 메모리, 복수의 메모리 요소들 중 하나의 메모리 요소로의 액세스를 위해, 메모리 요소에 저장된 데이터 요소에 대한 오류 검출 정보가 메모리 요소에 저장된 데이터 요소의 오류를 표시하는지를 체크하고, 메모리 요소에 저장된 데이터 요소에 대한 오류 검출 정보가 메모리 요소에 저장된 데이터 요소의 오류를 표시하는지에 따라, 액세스를 위해 오류 정정 정보를 처리하도록 구성된 메모리 액세스 회로를 포함하는 메모리 회로가 설명된다.
申请公布号 KR101557572(B1) 申请公布日期 2015.10.05
申请号 KR20140019089 申请日期 2014.02.19
申请人 인텔 모바일 커뮤니케이션스 게엠베하 发明人 라인인게르, 안드레아스;리흐테르, 미하엘;프란츠, 슈테판
分类号 G11C29/04;G11C29/42 主分类号 G11C29/04
代理机构 代理人
主权项
地址