发明名称 | 光电零组件检测设备 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI502173 | 申请公布日期 | 2015.10.01 |
申请号 | TW102114615 | 申请日期 | 2013.04.24 |
申请人 | 旺矽科技股份有限公司 | 发明人 | 李俊明 |
分类号 | G01J1/04;G01J1/00 | 主分类号 | G01J1/04 |
代理机构 | 代理人 | 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 | |
主权项 | 一种光电零组件检测设备,包含有:一积分球,具有一开口;以及一递送装置,包含有至少二可相对该积分球位移并可自该开口进出该积分球之递送单元,各该递送单元包含有一承载台,该承载台具有一用以承载一光电零组件之承载部,该等递送单元能同步转动并轮流地自该积分球之外部转动至一检测位置,使其中之一递送单元之承载台的承载部位于该积分球内;该递送装置之递送单元系绕一垂直轴向转动,该积分球之开口系实质上垂直于该垂直轴向地延伸成弧形,且各该递送单元之承载部能通过该积分球之开口。 | ||
地址 | 新竹县竹北市中和街155号 |