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经营范围
发明名称
积体电路元件及其制造方法;INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
摘要
一种方法包含方法包含形成伪闸极堆叠于半导体基板上方,其中半导体基板包含于晶圆中,移除伪闸极堆叠以形成凹陷,形成闸极介电层于凹陷中,形成金属层于凹陷中且位于闸极介电层上方。金属层具有n型功函数。利用原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)形成阻挡层于金属层上方。藉由金属材料填充凹陷之剩余部分,其中金属材料覆盖金属层。
申请公布号
TW201537683
申请公布日期
2015.10.01
申请号
TW103145765
申请日期
2014.12.26
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人
曹荣志 TSAO, JUNGCHIH;洪奇成 HUNG, CHICHENG;王喻生 WANG, YUSHENG;李文熙 LEE, WENHSI;陈科维 CHEN, KEIWEI;王英郎 WANG, YINGLANG
分类号
H01L21/8234(2006.01)
主分类号
H01L21/8234(2006.01)
代理机构
代理人
蔡坤财李世章
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW
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