| 发明名称 | 电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置 | ||
| 摘要 | 提供一种电子零件试验用插座以及应用此插座的电子零件试验装置。拟解决的问题是不使噪声进入施加给IC器件等电子零件的试验信号和从IC器件等电子零件读出的响应信号中，从而控制IC插座等电子零件试验用插座的温度，为了解决该课题，通过气体流出口(65)与气体流入口(76)使电子零件试验用插座底盘(6)的第一空间(67)与电子零件试验用插座(7)的插座主体内部空间(75)连通，同时通过气体流入口(66)与气体流出口(77)使电子零件试验用插座底盘(6)的第二空间(68)与电子零件试验用插座(7)的插座主体内部空间(75)连通。 | ||
| 申请公布号 | CN1291235C | 申请公布日期 | 2006.12.20 |
| 申请号 | CN01820180.6 | 申请日期 | 2001.12.07 |
| 申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 石川贵治;中村浩人 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 吴丽丽 |
| 主权项 | 1.一种电子零件试验用插座底盘，它具有底盘主体和设在该底盘主体上侧的插座端口，其特征在于，在此电子零件试验用插座底盘的内部留设有空间，而在此底盘主体中设有和上述空间相通的气体流入口或气体流出口，并且在上述插座端口中设有和上述空间相通的气体流出口或气体流入口。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||