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发明名称 TESTER ARCHITECTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP1629289(A4) 申请公布日期 2006.06.14
申请号 EP20040752968 申请日期 2004.05.21
申请人 TESEDA CORPORATION 发明人 LIMAYE, AJIT, M.;DECHER, PETER, H.;NIEHAUS, HORST, ROLAND
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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