| 发明名称 | 评测迭片磁芯压力的方法和系统 | ||
| 摘要 | 一种评测磁芯(10)迭片(18)压力的方法包括：将磁轭(12，112，212，312，412)定位于磁芯附近，磁轭被激励绕组(14)缠绕；向激励绕组供给电流从而将磁通量注入磁芯；测量由注入磁通量得到的信号；以及使用所述测得信号评测迭片磁芯压力。一种用于实施该方法的系统(56)包括所述磁轭；用于供给电流的电流源(30)；用于测量所述信号的传感器(32或36)；以及使用所述测得信号评测所述迭片磁芯压力的计算机(28)。 | ||
| 申请公布号 | CN100516865C | 申请公布日期 | 2009.07.22 |
| 申请号 | CN03826453.6 | 申请日期 | 2003.05.21 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | 杰拉尔德·B·克利曼;约翰·A·马利克;马诺杰·R·沙;李桑冰 |
| 分类号 | G01N27/90(2006.01)I;H02K15/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/90(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王 冉;王景刚 |
| 主权项 | 1、一种评测迭片(18)磁芯(10)压力的方法，该方法包括：(a)将磁轭(12，112，212，312，412)定位于所述磁芯附近，所述磁轭被激励绕组(14)缠绕；(b)向所述激励绕组供给电流从而将磁通量注入所述磁芯；(c)测量由所述注入磁通量得到的信号；以及(d)从所测得的信号中获取磁滞损失信号并使用所述磁滞损失信号评测所述迭片磁芯压力。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||