发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明系关于一种半导体装置的制造方法,此方法透过在对源极与汲极区中之半导体基板进行蚀刻后,使用包含有掺杂物的氧化膜形成潜接面,藉以消除泄漏电流增大之成因,进而可于高集成度积体电路中抑制功率升高。
申请公布号 TW200917378 申请公布日期 2009.04.16
申请号 TW097137832 申请日期 2008.10.01
申请人 东部高科股份有限公司 发明人 赵勇洙
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 南韩