精准量测自动测试设备内部杂散电容之系统与方法

摘要

本发明提供一种精准量测自动测试设备杂散电容之系统与方法。该方法具有复数个步骤，系包含：首先，由一电压驱动单元对一内部电路进行数次充放电；接着，使该内部电路自行放电，电压值由V1递减至V2；然后，测得放电时间间隔；再来，将时间间隔代入放电数学式，以得到一第一R-C放电方程式；接着，将自动测试设备与一辅助测试模组耦合；然后，重复上述之放电步骤以得到一第二R-C放电方程式；以及联立该第一、第二R-C放电方程式以求得杂散电阻及电容。如此，则可以迅速、有效的方式求得寄存于自动测试设备中之杂散电容。