发明名称 Semiconductor Integrated Circuit And Multi Test Method Thereof
摘要
申请公布号 KR100892669(B1) 申请公布日期 2009.04.15
申请号 KR20070089489 申请日期 2007.09.04
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C7/10;G11C8/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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