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Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur dreidimensionalen Abbildung einer Probe, bei dem Bildinformationen aus unterschiedlichen Ebenen in der Tiefe der Probe ortsaufgelöst gespeichert werden und anschließend aus diesen Bildinformationen das dreidimensionale Bild der Probe rekontruiert wird. Bei einem derartigen Verfahren, das sich auf die Methode der Selective-Plane-Illumination-Microscopy (SPIM) bezieht, ist erfindungsgemäß vorgesehen, daß - das Beleuchtungslicht mit einer Referenzstruktur beaufschlagt wird, - mindestens ein fluoreszierendes Referenzobjekt neben oder in der Probe positioniert wird, - aus mindestens einer Detektionsrichtung Bilder von der Referenzstruktur des Beleuchtungslichts, des Referenzobjektes oder einer als Referenzstruktur geeigneten Probenstruktur aufgenommen und bewertet werden, - anhand des Ergebnisses das Lichtblatt in eine optimale Position gebracht wird, - aus mehreren Detektionsrichtungen Bildinformationen von dem Referenzobjekt und von der Probe gespeichert werden, - anhand der vom Referenzobjekt gespeicherten Bildinformationen Transformationsoperatoren gewonnen und diese der Rekonstruktion der dreidimensionalen Abbildung der Probe aus den von der Probe gespeicherten Bildinformationen zugrunde gelegt werden. |
