发明名称 一种可控硅检测装置
摘要 本实用新型适用于可控硅检测领域,提供了一种可控硅检测装置,包括电源电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。本实用新型结构简单,易于制作,造价低,使用方便,具有多种检测功能,可以方便、迅速、可靠地检测可控硅的好坏,给可控硅设备的维修带来很大方便。采用该检测装置可以直接对设备中的可控硅进行检测,不需要将可控硅取出,检测结果可以直观指示,不会导致检测失误。
申请公布号 CN201218833Y 申请公布日期 2009.04.08
申请号 CN200820093722.6 申请日期 2008.04.29
申请人 比亚迪股份有限公司 发明人 罗秋华;张永清
分类号 G01R31/26(2006.01)I;G01R31/27(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 代理人 张全文
主权项 1、一种可控硅检测装置,其特征在于,所述装置包括:电源电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。
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