发明名称 |
一种可控硅检测装置 |
摘要 |
本实用新型适用于可控硅检测领域,提供了一种可控硅检测装置,包括电源电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。本实用新型结构简单,易于制作,造价低,使用方便,具有多种检测功能,可以方便、迅速、可靠地检测可控硅的好坏,给可控硅设备的维修带来很大方便。采用该检测装置可以直接对设备中的可控硅进行检测,不需要将可控硅取出,检测结果可以直观指示,不会导致检测失误。 |
申请公布号 |
CN201218833Y |
申请公布日期 |
2009.04.08 |
申请号 |
CN200820093722.6 |
申请日期 |
2008.04.29 |
申请人 |
比亚迪股份有限公司 |
发明人 |
罗秋华;张永清 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01R31/27(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
1、一种可控硅检测装置,其特征在于,所述装置包括:电源电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路,与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。 |
地址 |
518118广东省深圳市龙岗区坪山镇横坪公路3001号 |