发明名称 局部连通性追踪的方法以及由其产生的原理图示
摘要 本发明涉及一种局部连通性追踪的方法以及由其产生的原理图示,其提供了一种详细描述电路的原理图,所述原理图是从取自电路的多个图像经过反向工程得到的。所述原理图包括至少一个电路元件,所述电路元件在多个图像的至少一个图像中被表示为对象,以便通过在多个图像中的第一图像和第二图像之间进行局部连通性追踪,以确定信号连续性信息。本发明还公开了追踪多个图像内的连通性以生成原理图的方法。
申请公布号 CN101404038A 申请公布日期 2009.04.08
申请号 CN200810005931.5 申请日期 2008.02.18
申请人 英赛特半导体有限公司 发明人 爱德华·凯斯;维亚切斯拉夫·L·萨瓦德斯基
分类号 G06F17/50(2006.01)I;G06T5/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人 褚海英;武玉琴
主权项 1.一种详细描述集成电路,即IC的原理图,所述原理图是从多个IC的图像经过反向工程得到的,所述原理图包括:至少一个表示为对象的电路元件,所述对象的一部分处于多个图像中的至少一个图像中;至少一个位置属性,所述位置属性指定了所述电路元件在IC中的位置,所述至少一个位置属性与所述电路元件相关联;以及信号连续性信息,所述信号连续性信息是通过多个图像的第一图像和第二图像之间的局部连通性追踪予以确定的。
地址 加拿大渥太华