| 发明名称 | 一种基于物体发射光谱的温度测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于物体发射光谱的温度测量方法，包括如下步骤：(1)利用光谱仪采集某温度下的待测物体发出的连续光谱并对该连续光谱进行滤波和平滑处理；(2)根据50～150nm光谱宽度范围内的光谱数据获得ln(E(λ，T)·λ<sup>5</sup>)关于<img file="201010229117.9_ab_0.GIF" wi="17" he="46" />的变化曲线并采用线性拟合方法求出该变化曲线的斜率A，再根据方程<img file="201010229117.9_ab_1.GIF" wi="62" he="43" />获得待测物体温度T；其中，E(λ，T)为光谱强度，λ为辐射波长，T为物体温度，c<sub>2</sub>＝1.43879×10<sup>-2</sup>m/K为第二辐射常数。本发明提高了温度测量的准确性和普适性。 | ||
| 申请公布号 | CN101907492A | 申请公布日期 | 2010.12.08 |
| 申请号 | CN201010229117.9 | 申请日期 | 2010.07.16 |
| 申请人 | 浙江工业大学 | 发明人 | 姚建华;苗建明 |
| 分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人 | 黄美娟;俞慧 |
| 主权项 | 1.一种基于物体发射光谱的温度测量方法，包括如下步骤：(1)利用光谱仪采集某温度下的待测物体发出的连续光谱并对该连续光谱进行滤波和平滑处理；(2)根据50～150nm光谱宽度范围内的光谱数据获得ln(E(λ，T)·λ<sup>5</sup>)关于<img file="FDA0000023406750000011.GIF" wi="40" he="106" />的变化曲线并采用线性拟合方法求出该变化曲线的斜率A，再根据方程<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>A</mi><mo>=</mo><mo>-</mo><mfrac><msub><mi>c</mi><mn>2</mn></msub><mi>T</mi></mfrac></mrow></math>]]></maths>获得待测物体温度T；其中，E(λ，T)为光谱强度，λ为辐射波长，T为待测物体温度，c<sub>2</sub>＝1.43879×10<sup>-2</sup>m/K为第二辐射常数。 | ||
| 地址 | 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区 | ||