| 发明名称 | X射线检查装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种X射线检查装置，其具有多个判断基准，能够基于多个判断基准进行异物判断。在该X射线检查装置(100)中，用X射线照射装置(200)及线性传感器(300)检测物品(600)的状态，用控制部(350)基于级别1～级别5的检测级别判断物品(600)的状态，用输出部(355)输出该判断结果。另外，在检测级别为级别1的情形下设定成为控制部(350)的判断基准的第一阈值(771a、771b)。 | ||
| 申请公布号 | CN101907580A | 申请公布日期 | 2010.12.08 |
| 申请号 | CN201010200544.4 | 申请日期 | 2010.06.08 |
| 申请人 | 株式会社石田 | 发明人 | 岛田征浩 |
| 分类号 | G01N23/02(2006.01)I;G01N23/18(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人 | 龙淳;刘春成 |
| 主权项 | 一种X射线检查装置，包括：X射线检测单元，其检测通过物品的X射线的级别；判断单元，其基于所述X射线检测单元检测到的X射线的检测级别来判断所述物品的状态，所述X射线检测单元对于每个判断基准使用包括第一阈值和第二阈值的多个阈值；和输出单元，其输出由所述判断单元做出的判断的结果。 | ||
| 地址 | 日本京都 | ||