发明名称 半导体测试图案信号的乘法装置
摘要 本发明公开了一种用于将半导体测试图案信号相乘的装置。该乘法装置首先将多个图案信号编码以使其具有不同的图案类型,并且根据异或逻辑(XOR)方案将已编码的图案信号相乘以便产生单个图案信号,由此识别相乘之前的图案信号和相乘之后的另一个图案信号之间的关系。图案信号分段/输出单元可将半导体测试图案信号分成多个图案信号,并同时输出该分段后的图案信号。图案信号复原/乘法单元可将从图案信号分段/输出单元中所接收到的分段后的图案信号复原为半导体测试图案信号,将复原结果输出到在要测试的目标半导体中记录测试图案的驱动器,以及将输出到驱动器的信号乘以预定频带,而不是与分段信号的频带相乘。
申请公布号 CN101911210A 申请公布日期 2010.12.08
申请号 CN200880122484.X 申请日期 2008.10.17
申请人 株式会社IT&T 发明人 张庆勋;吴世京
分类号 G11C29/00(2006.01)I 主分类号 G11C29/00(2006.01)I
代理机构 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人 张春媛;阎娬斌
主权项 一种用于将半导体测试图案信号相乘的装置,包括:图案信号分段/输出单元,用于把半导体测试图案信号分段成多个图案信号,并同时输出分段后的图案信号;以及图案信号复原/乘法单元,用于把从图案信号分段/输出单元中接收到的分段后的图案信号复原为半导体测试图案信号,向在要测试的目标半导体中记录测试图案的驱动器输出复原结果,以及用输出到驱动器的信号乘以预定频带而不是分段后的信号的频带。
地址 韩国京畿道
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