发明名称 | 基于相位编码技术的光学三维测量方法 | ||
摘要 | 一种基于相位编码技术的光学三维测量方法,属三维测量技术领域。由以下步骤组成:(1)计算机生成光栅编码条纹图像;(2)用数字投影设备投射光栅编码条纹图像;(3)采集光栅条纹图像并利用相移算法进行编码求解和三维测量;其特征在于:(4)所述光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素个数等于所采用的相移算法步数;(5)所述的光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素灰度需满足正弦或余弦曲线分布,并且像素灰度值为相应正弦或余弦函数的极值点。本方法相对传统正弦相移编码方法,对数字投影设备的伽玛非线性影响具有更强的抗干扰性,编码具有更高稳定性、可靠性和正确性,在物体表面光学三维轮廓精确测量方面有着重要的作用。 | ||
申请公布号 | CN101881605A | 申请公布日期 | 2010.11.10 |
申请号 | CN201010190225.X | 申请日期 | 2010.06.02 |
申请人 | 南京航空航天大学 | 发明人 | 崔海华;戴宁;程筱胜;廖文和 |
分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人 | 唐小红 |
主权项 | 一种基于相位编码技术的光学三维测量方法,由以下步骤组成:(1)、计算机生成光栅编码条纹图像;(2)、使用数字投影设备投射光栅编码条纹图像;(3)、采集光栅条纹图像并利用相移算法进行编码求解和三维测量;其特征在于:(4)、所述的光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素个数等于所采用的相移算法步数;(5)、所述的光栅编码条纹图像的每个光栅周期内像素灰度需满足正弦或余弦曲线分布,并且像素灰度值为相应正弦或余弦函数的极值点。 | ||
地址 | 210016 江苏省南京市白下区御道街29号 |