发明名称 利用乙太网路供电之网路测试存取点/汇集器装置阵列
摘要
申请公布号 TWI330961 申请公布日期 2010.09.21
申请号 TW095137352 申请日期 2006.10.11
申请人 芬尼莎股份有限公司 发明人 克里斯托弗西彻帝;亚瑟罗森;葛丽泰莱特;保罗詹堤耶;提摩太拜尔斯;唐奴布雷克威尔
分类号 H04L12/26 主分类号 H04L12/26
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路5段410号4楼
主权项 一种利用乙太网路供电之网路测试存取点装置阵列,包含有:一机壳;以及复数个包含在该机壳中之网路测试存取点装置,其中至少一该网路测试存取埠系利用乙太网路供电。如申请专利范围第1项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置包含有与一通讯电缆操作性地连接之一第一网路埠与一第二网路埠,该通讯电缆系承载自各该网路测试存取点装置输入或者输出之资料讯号,该通讯电缆更承载利用乙太网路供电之电源,其中至少一利用乙太网路供电之网路测试存取点装置系藉由至少一该通讯电缆以接收乙太网路供电之电源供应。如申请专利范围第2项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该第一网路埠与该第二网路埠系为位于各该网路测试存取点装置前表面之RJ-45埠。如申请专利范围第1项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系分别操作性地连接至各监测装置。如申请专利范围第1项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该等网路测试存取点装置系容置于复数个副机壳中,且各该副机壳系容置于该机壳中。如申请专利范围第5项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该机壳中之各该副机壳包含复数个网路测试存取点装置与一汇集器,该汇集器系操作性地连接至容置于该副机壳之各该网路测试存取点装置上。如申请专利范围第6项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系利用乙太网路供电,且该汇集器系利用直流电源供电。如申请专利范围第1项所述之网路测试存取点装置阵列,其中至少一该网路测试存取点装置包括有一网路埠与一测试存取埠,该网路埠系可操作性地与一承载利用乙太网路供电之电源之通讯电缆连接,至少一该网路测试存取点装置系由乙太网路供电之电源,至少一该网路测试存取点装置透过该测试存取埠以将该乙太网路供电之电源之一部份递送给透过一通讯电缆连接至该测试存取埠之一监测装置。如申请专利范围第1项所述之网路测试存取点装置阵列,其中:该网路测试存取点装置系被包含在复数个副机壳中,至少一该副机壳被包含在该机壳中;一副机壳,包括有复数个网路测试存取点装置以及一汇集器,该汇集器系可操作性地连接至位于该副机壳中之每一该网路测试存取点装置;以及该副机壳之至少一该网路测试存取点装置系由该乙太网路供电之电源所供电,该副机壳之该汇集器系由该乙太网路供电之电源所供电。一种网路测试存取点装置阵列,用以监测藉由一通讯网路传送之资料,该网路测试存取点装置阵列包含:一机壳;以及复数个位于该机壳内之网路测试存取点装置,其中各该网路测试存取点装置包含:一第一网路埠与一第二网路埠,系与一通讯电缆操作性地连接,该通讯电缆用以承载自各该网路测试存取点装置输入或者输出之资料讯号,该通讯电缆更承载利用乙太网路供电之电源;一第一测试存取埠与一第二测试存取埠,系与一通讯电缆操作性地连接,该通讯电缆用以承载传送给至少一连接装置之资料讯号;以及一控制与调节电路,系藉由该第一网路埠与该第二网路埠至少其中之一接收来自至少一该通讯电缆所提供的乙太网路供电之电源,其中该控制与调节电路使该网路测试存取点装置之元件利用乙太网路供电而操作。如申请专利范围第10项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系依据刀锋形状配置,且各该网路测试存取点装置包含一前表面。如申请专利范围第11项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该第一与第二网路埠以及该第一与第二测试存取埠系位于各该网路测试存取点装置之前表面。如申请专利范围第12项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置包含一发光二极体面板,用以指示有关各该网路测试存取点装置操作条件之状态。如申请专利范围第13项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该发光二极体面板包含一发光二极体,当一乙太网路供电之电源存在于操作性地连接至该第一网路埠与该第二网路埠其中之一之通讯电缆上时,该发光二极体则被点亮,且该发光二极体面板包含至少一发光二极体,当该通讯网路与该第一网路埠与第二网路埠其中之一建立连结时,该发光二极体则被点亮。如申请专利范围第14项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置之尺寸大小系约为3.5英寸宽×1.4英寸高×5.5英寸深。如申请专利范围第15项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系可操作于温度范围介于摄氏0至40度,高度范围最高至3000公尺。如申请专利范围第16项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系操作于每秒10Mb到至少每秒十亿位元之资料传送速率。如申请专利范围第17项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该机壳系容纳24个该网路测试存取点装置,且以2行每行12个之方式排列。如申请专利范围第17项所述之网路测试存取点装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系可自该机壳上进行热插拔。如申请专利范围第10项所述之网路测试存取点装置阵列,其中该通讯电缆系将该乙太网路供电之电源之一部份递送给该至少一连接装置,该控制与调节电路系透过该第一测试存取埠与该第二测试存取埠之至少其中之一以将该乙太网路供电之电源之一部份递送给该至少一连接装置。一种通讯网路之网路测试存取点/汇集器装置阵列,包含:一副机壳;复数个容置于该副机壳中之网路测试存取点装置,其中各该网路测试存取点装置皆利用乙太网路供电,且各该网路测试存取点装置能输出与藉由该通讯网路传送之资料相关之资料流;以及至少一汇集器,该汇集器用以接收并汇集自各该网路测试存取点装置输出之资料流,且该至少一汇集器将该汇集资料传送至一监测装置。如申请专利范围第21项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中该汇集器系利用直流电源与乙太网路供电其中之一供电。如申请专利范围第22项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中该副机壳容置有5个该网路测试存取点装置与1个该汇集器。如申请专利范围第23项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中复数个该副机壳系容置于一机壳内。如申请专利范围第24项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中各该网路测试存取点装置之前表面包含两个网路埠,且该汇集器之前表面包含两个测试存取埠。如申请专利范围第25项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中各该网路测试存取点装置藉由一背板连接器操作性地连接至该副机壳中之该汇集器。如申请专利范围第26项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中各该网路测试存取点装置可执行资料缓冲,且该汇集器可自动侦测容置于该副机壳中之装置数目。如申请专利范围第27项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中各该网路测试存取点装置系利用直流电源供电。如申请专利范围第21项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中该汇集器系由该乙太网路供电之电源所供电,该乙太网路供电之电源系接收自一个或一个以上之该网路测试存取点装置。如申请专利范围第29项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中由该乙太网路供电之电源所供电之该汇集器亦可由一直流电源供电。如申请专利范围第29项所述之网路测试存取点/汇集器装置阵列,其中该网路测试存取点装置藉由一背板连接器操作性地连接至该副机壳中之该汇集器,该汇集器透过该背板连接器自该网路测试存取点装置接收该乙太网路供电之电源。
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