发明名称 紫外线硬化树脂之状态推定方法
摘要
申请公布号 TWI334927 申请公布日期 2010.12.21
申请号 TW096108673 申请日期 2007.03.14
申请人 欧姆龙股份有限公司 发明人 今井清司;井上宏之;千贺匡;中宗宪一;长谷部洋治
分类号 G01N21/64 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种紫外线硬化树脂之状态推定方法,系将包含由单体或寡聚物之至少一种所构成之主剂和光聚合起始剂之紫外线硬化树脂之状态予以推定之方法,其特征为由下列步骤构成:对前述之紫外线硬化树脂照射紫外线之照射步骤、接受在前述之照射步骤所照射之紫外线来检测藉由前述之光聚合起始剂所放射的萤光之检测步骤、以及根据在前述检测步骤所检测之萤光而推定前述紫外线硬化树脂的状态之推定步骤。如申请专利范围第1项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系在对于前述紫外线硬化树脂产生硬化反应的硬化用紫外线之照射中,根据随着前述紫外线硬化树脂之硬化反应所产生之萤光强度之时间变化,而推定前述紫外线硬化树脂之状态。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系接着于萤光强度之增加后,而在发生萤光强度之增加速度降低、萤光强度之增加停止以及萤光强度之减少中的任何一种时间点,认为是实质地消耗前述光聚合起始剂。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系接着于萤光强度之增加后,而在发生萤光强度之增加速度降低、萤光强度之增加停止以及萤光强度之减少中的任何一种时间点,认为是前述紫外线硬化树脂达到最大硬化度。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述推定步骤系在萤光强度之增加开始后,在其萤光强度相对于开始增加前之萤光强度的差或比值超过预先设定之临限值的时间点,认为是前述之紫外线硬化树脂达到特定硬化度。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述推定步骤系在其萤光强度超过预先设定的临限值之时间点,认为是前述紫外线硬化树脂达到特定硬化度。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系藉由比较检测之萤光强度的时间变化和成为预先设定之基准的时间变化,而推定前述紫外线硬化树脂之状态。如申请专利范围第2项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述推定步骤系藉由取得由特定之基准时间点开始至萤光强度产生特定之时间变化为止的需要时间,将该取得之需要时间与预先设定之基准值比较,而推定前述紫外线硬化树脂之状态。如申请专利范围第1项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系根据在用以对于前述紫外线硬化树脂产生硬化反应之硬化用紫外线照射前所检测之萤光强度,而推定前述紫外线硬化树脂之状态。如申请专利范围第1项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述之推定步骤系根据在用以对于前述紫外线硬化树脂产生硬化反应之硬化用紫外线照射后所检测之萤光强度,而推定前述紫外线硬化树脂之状态。如申请专利范围第1项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述推定步骤系根据从硬化反应产生后之前述紫外线硬化树脂所检测之萤光强度,而推定储存于前述紫外线硬化树脂之构造应力之状态。如申请专利范围第2至10项中任一项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述照射步骤系照射呈周期性地进行强度变化、用以检测藉由前述之光聚合起始剂所放射之萤光的检测用紫外线,前述检测步骤系包含:接受由前述紫外线硬化树脂所放射之光的受光步骤、以及由在前述受光步骤所接受之光而萃取出对应于前述检测紫外线之强度变化周期之周期成分来作为前述萤光之萃取步骤。如申请专利范围第12项之紫外线硬化树脂之状态推定方法,其中前述硬化用紫外线系具有时间概略一定强度之紫外线,前述之检测用紫外线系以既定周期来进行放射而具有脉冲状之光强度的紫外线。
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