发明名称 Semiconductor Memory Apparatus and Method of Testing the Same
摘要
申请公布号 KR101188259(B1) 申请公布日期 2012.10.05
申请号 KR20090058648 申请日期 2009.06.29
申请人 发明人
分类号 G11C29/14 主分类号 G11C29/14
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利