| 摘要 |
一种应用于电子元件测试分类机之测试装置，该测试装置包含有第一、二升降机构及一横移机构，第一、二升降机构各设有一可作Z轴向位移之第一、二传动架，第一、二传动架之两端系滑置于二第一、二Z轴向滑轨上，并可带动一具第一、二取放器之第一、二直压杆架作Z轴向位移，而横移机构系于第一、二直压杆架之两侧方设有二X轴向滑轨，并具有二可作X轴向位移之第一、二掣动架，第一、二掣动架之两端则滑置于二X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器可作X-Z轴向位移而执行取放及压测电子元件作业；藉此，当第一、二取放器将电子元件之反作用力传导至第一、二传动架及第一、二掣动架时，第一、二传动架及第一、二掣动架可分别利用两端滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨及二X轴向滑轨而使受力平衡，以防止产生X-Y轴向力矩及机件变形，达到提升取放元件精确性及测试品质之实用效益。 |
