发明名称 |
一种电子产品的测试方法、装置及系统 |
摘要 |
一种电子产品的测试方法、装置及系统,该方法包括:根据电子产品的标识获取测试信息;运行各条测试指令,并加载相应的参数至与各条测试指令相对应的程序代码中,获得与各条测试指令相对应的测试数据;判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围;在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下,判定所述电子产品的测试通过,在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下,判定电子产品的测试不通过。本发明实施例公开的测试方法在测试不同电子产品时,只需要修改测试信息中相应的参数即可,不需要研发多种测试方法就能完成整个测试过程,且简单实用。 |
申请公布号 |
CN102636704B |
申请公布日期 |
2015.07.15 |
申请号 |
CN201210054921.7 |
申请日期 |
2012.03.05 |
申请人 |
深圳市英威腾电气股份有限公司 |
发明人 |
米杰;王德武;游开宗 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 |
代理人 |
唐华明 |
主权项 |
一种电子产品的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:上位机根据所述电子产品的标识获取测试信息,其中,所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的参数;上位机运行所述各条测试指令,并加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中,获得与所述各条测试指令相对应的测试数据;上位机判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围;上位机在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下,判定所述电子产品的测试通过,在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下,判定所述电子产品的测试不通过;其中,在根据所述电子产品的标识获取测试信息的步骤之前还包括:接收对运行与所述各条测试指令相关的程序代码所需要的参数进行修改的命令后,根据接收到的所述命令对相应的参数进行修改;所述各条测试指令相互独立,所述测试指令中的参数包括功能模块选取参数以及测试参数,所述功能模块选取参数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据,所述测试参数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值,其中,在运行所述各条测试指令,并加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中,以获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤中具体包括:在当前测试指令需要执行的情况下,运行所述当前测试指令,并加载与所述当前测试指令相对应的功能模块选取参数至相对应的程序代码中,选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块,再加载与所述当前测试指令相对应的测试参数至所述某个功能模块中,获得与所述当前测试指令相对应的测试数据。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区龙井高发科技工业园4号厂房 |