发明名称 用于钌及钽阻障CMP之组合物及方法
摘要 本发明提供化学机械抛光组合物,其包括磨料、水性载剂、相对于标准氢电极之标准还原电位大于0.7伏且小于1.3伏之氧化剂、及视情况硼酸根阴离子源,其限制条件系当氧化剂包括除过硼酸盐、过磷酸盐,或过碳酸盐以外的过氧化物时,该化学机械抛光组合物进一步包括硼酸根阴离子源,其中该化学机械抛光组合物之pH系介于7与12之间。本发明亦提供用上述化学机械抛光组合物抛光基板之方法。
申请公布号 TWI392727 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW097143226 申请日期 2008.11.07
申请人 卡博特微电子公司 美国 发明人 李守田
分类号 C09K3/14;H01L21/304 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国
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