发明名称 测试装置以及测试方法
摘要 一种测试装置,其可降低根据被测试设备的温度而变化的漏电流的影响,并可对被测试设备的良否进行精确判定。该测试装置根据被测试设备的静止电源电流,对被测试设备的良否进行判定,该测试装置包括:电源,其将驱动被测试设备的电力供给至被测试设备;图案产生部,其将使被测试设备的电路设定为特定状态的设定向量,供给至被测试设备;电源电流测定部,其于根据设定向量而将被测试设备设定为上述特定状态时,对自电源供给至被测试设备的静止电源电流进行测定;以及,判定部,其自设置于被测试设备内部的温度感应器取得被测试设备的温度,并根据由电源电流测定部所测定的静止电源电流以及被测试设备的温度,判定被测试设备的良否。
申请公布号 TWI392883 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW095116179 申请日期 2006.05.08
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 古川靖夫
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本