| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung zumindest einer Fehlfunktion eines konduktiven Leitfähigkeitssensors mit zumindest zwei Elektroden (1, 2, 4, 5), wobei der Leitfähigkeitssensor zur Messung der Leitfähigkeit eines Mediums eingesetzt wird, umfassend die Schritte–Anlegen einer ersten elektrischen Größe an die Elektroden (1, 2, 4, 5),–Messen zumindest einer zweiten elektrischen Größe an den Elektroden (1, 2, 4, 5) und–Entscheiden ob eine Fehlfunktion vorliegt anhand der Messung der zweiten elektrischen Größe, a) wobei sich die zweite elektrische Größe bei einer Messung des Mediums in einem ersten Bereich befindet, wenn keine Fehlfunktion vorliegt, b) wobei sich die zweite elektrische Größe in einem zweiten Bereich befindet, wenn eine erste Fehlfunktion, insbesondere wenn sich der Leitfähigkeitssensor zumindest teilweise außerhalb des Mediums befindet, und c) wobei sich die zweite elektrische Größe in einem dritten Bereich befindet, wenn eine zweite Fehlfunktion vorliegt, insbesondere ein Elektrodenabriss oder ein Abriss einer Zuleitung (7, 8) zu den Elektroden (1, 2, 4, 5). Die Erfindung betrifft weiterhin einen Leifähigkeitssensor zur Durchführung des Verfahrens.</p> |
