发明名称 薄膜电晶体之制造方法、薄膜电晶体
摘要 提供一种就算是暴露在氢电浆中亦不会剥离的金属配线膜。藉由在铜中被添加有Al之密着层(51)、和被配置在密着层(51)上并由纯铜所成之金属低电阻层(52),来构成金属配线膜(20a)。若是密着层(51)中,使其包含着含有Al与氧之铜合金,并构成与矽层相密着之源极电极膜(27)与汲极电极膜(28),则就算是暴露在氢电浆中,铜亦不会在密着层(51)与矽层之界面处析出,而密着层(51)与矽层之间系不会剥离。若是Al变多,则由于在蚀刻后,密着层(51)与金属低电阻层(52)之宽幅系会产生很大的差异,因此,能够进行蚀刻之最大添加量,系成为Al之上限。
申请公布号 TWI427800 申请公布日期 2014.02.21
申请号 TW098113343 申请日期 2009.04.22
申请人 爱发科股份有限公司 日本 发明人 高泽悟;石桥晓;增田忠
分类号 H01L29/786 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本