OLED模组测试系统和测试方法

摘要

本发明公开了一种OLED模组测试系统和测试方法，其测试系统包括程控信号源、程控电源、上位机以及AC-DC电源，程控信号源的输入端与上位机连接、输出端分别与程控电源的输入端以及待测OLED模组连接，程控电源的多路输出端分别与待测OLED模组连接，AC-DC电源的输出端分别与程控信号源和程控电源连接。本发明同时兼容LVDS、RGB、MIPI、DP四种接口信号，使得本发明能适用于不同尺寸LED模组的测试需求；本发明能提供多路电源输出，且每路电源输出可独立开关调节，突破了传统液晶模组测试系统对OLED模组进行检测的局限性。

主权项

一种OLED模组测试系统，其特征在于：包括程控信号源(1)、程控电源(2)、上位机(3)以及AC‑DC电源(4)，所述程控信号源(1)分别上位机(3)程控电源(2)以及待测OLED模组(5)相连接，所述程控电源(2)的多路输出端分别与待测OLED模组(5)连接，所述AC‑DC电源(4)的输出端分别与程控信号源(1)和程控电源(2)连接；所述程控电源(2)包括第二MCU控制单元(21)和电源输出模块(22)，所述第二MCU控制单元(21)根据电源配置信息配置电源输出模块(22)，所述电源输出模块(22)按照电源配置信息向待测OLED模组(5)提供多路电源；所述程控信号源(1)包括ARM核心模块(11)、图像信号发生模块(12)和信号接口转换模块(13)，所述ARM核心模块(11)接收从上位机(3)获取的电源配置信息、分辨率信息和模组配置信息，并分别发送至第二MCU控制单元(21)、图像信号发生模块(12)和信号接口转换模块(13)，所述图形信号发生模块(12)根据分辨率信息生成图形信号并发送至信号接口转换模块(13)，所述信号接口转换模块(13)根据模组配置信息对待测OLED模组(5)进行配置，并将从图形信号发生模块(12)接收的图形信号转换为与待测OLED模组(5)匹配的测试信号，将测试信号发送至待测OLED模组(5)显示；所述上位机(3)向程控信号源(1)发送电源配置信息、分辨率信息和模组配置信息；所述AC‑DC电源(4)向程控信号源(1)和程控电源(2)供电。