| 摘要 |
基板表面上に形成されるマイクロセンサ（例えば、マイクロカンチレバー）と、基板表面上に形成される試薬堆積部位であって、試薬堆積のサイズおよび場所を制御するように機能する試薬堆積部位とを備える流体試験ストリップを提供する。流体試験ストリップを形成する方法であって、基板表面上にマイクロセンサを形成する工程、および、基板表面上に、試薬堆積のサイズおよび場所を制御するように機能する試薬堆積部位を形成する工程とを含む方法も提供する。好ましくは、試薬堆積部位は、表面材料内に１つまたは複数のモート、および任意選択で１つまたは複数のフェンスで囲まれたの島部を含む。試験ストリップの製造方法を実施するための装置およびコンピュータ可読媒体もまた提供する。 |
