发明名称 计测方法,图像处理装置,及带电粒子束装置
摘要
申请公布号 TWI489511 申请公布日期 2015.06.21
申请号 TW102115214 申请日期 2013.04.29
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 发明人 大桥健良;田中润一;北条穣;新藤博之;川田洋挥
分类号 H01J37/28;G06T5/00 主分类号 H01J37/28
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种计测方法,系从藉由带电粒子束装置取得之包含图样(pattern)的试料图像,来计测前述图样的轮廓之计测方法,其特征为,具备:第1步骤,抽出构成前述图样的轮廓之边缘点;第2步骤,在前述边缘点当中,于第1边缘点的邻近,取得第1亮度分布(luminance profile);第3步骤,在前述边缘点当中,于第2边缘点的邻近,取得第2亮度分布;第4步骤,在前述边缘点当中,于第3边缘点的邻近,取得第3亮度分布;第5步骤,依据所取得的前述第1亮度分布与前述第2及第3亮度分布,来求出前述第1亮度分布的形状之评估值;及第6步骤,依据前述评估值,进行前述第1边缘点的图样之轮廓修正。
地址 日本