发明名称 生产线红外测温仪的标定方法
摘要 本发明提供一种生产线红外测温仪的发射率标定方法,包括以下步骤:1)在被测物体从出炉时刻开始,直至生产线红外测温仪记录的测量时刻之间,获取一个具有稳定温度值的利用手持测温仪记录的测量时刻,计算时间差;2)已知被测物体温度随时间变化曲线,得到两个测量时刻的理论温度,计算两个测量时刻的理论温度差;3)获得手持测温仪在测试时刻时对应的发射率;4)根据发射率—温度增量公式,获得两个测温时刻的理论发射率差值;5)利用手持测温仪的发射率减去发射率差值,获得生产线红外测温仪的发射率。本发明能够在不影响生产的情况下,直接进行测温仪发射率的标定,避免了传统标定方法的不便、成本过高、难以实现等问题及其带来的经济损失。
申请公布号 CN104949758A 申请公布日期 2015.09.30
申请号 CN201410120333.8 申请日期 2014.03.27
申请人 上海赛科利汽车模具技术应用有限公司;同济大学 发明人 林建平;陈珂;孙博;朱彤;陈金华;汪斌;郭夏阳
分类号 G01J5/00(2006.01)I 主分类号 G01J5/00(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 钟玉敏
主权项 一种生产线红外测温仪的发射率标定方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在被测物体从出炉时刻t<sub>0</sub>开始,直至生产线红外测温仪记录的测量时刻t<sub>2</sub>之间,获取一个具有稳定温度值的利用手持测温仪记录的测量时刻t<sub>1</sub>,计算t<sub>1</sub>和t<sub>2</sub>的时间差Δt;2)已知被测物体温度随时间变化曲线,得到步骤1)中两个测量时刻t<sub>1</sub>和t<sub>2</sub>的理论温度T<sub>1</sub>和T<sub>2</sub>,计算两个测量时刻t<sub>1</sub>和t<sub>2</sub>的理论温度差ΔT=T<sub>2</sub>‑T<sub>1</sub>;3)获得手持测温仪在测试时刻t<sub>1</sub>时对应的发射率ε<sub>1</sub>;4)根据发射率—温度增量公式,获得两个测温时刻的理论发射率差值Δε,所述发射率—温度增量公式如下:Δε=4.4621×10<sup>‑4</sup>ΔT5)利用步骤3)中获得的手持测温仪的发射率ε<sub>1</sub>减去步骤4)中获得的发射率差值Δε,获得生产线红外测温仪的发射率ε<sub>2</sub>。
地址 201209 上海市浦东新区金穗路775号