发明名称 | X射线透过检查装置 | ||
摘要 | 本发明提供X射线透过检查装置,其能够降低装置的停机时间并能够实现X射线检测器的长寿命化。该X射线透过检查装置具备:X射线源(2),其相对于试样S照射X射线X;检测器(3),其相对于试样设置于X射线源的相反侧,并使用了对透过试样的X射线进行检测的荧光体(3b);屏蔽部件(4),其与检测器的检测面(3a)相对地配置并屏蔽X射线的一部分,在检测面上部分地形成X射线的屏蔽区域A1;以及部件驱动机构(5),其能使屏蔽部件相对于检测器进行相对移动来变更屏蔽区域A1的位置。 | ||
申请公布号 | CN104950002A | 申请公布日期 | 2015.09.30 |
申请号 | CN201510111764.2 | 申请日期 | 2015.03.13 |
申请人 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 发明人 | 的场吉毅 |
分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;黄纶伟 |
主权项 | 一种X射线透过检查装置,其特征在于,具备:X射线源,其对试样照射X射线;检测器,其相对于所述试样设置于所述X射线源的相反侧,并使用了对透过所述试样的所述X射线进行检测的荧光体;屏蔽部件,其与所述检测器的检测面相对地配置并屏蔽所述X射线的一部分,在所述检测面上部分地形成所述X射线的屏蔽区域;以及部件驱动机构,其能使所述屏蔽部件相对于所述检测器进行相对移动来变更所述屏蔽区域的位置。 | ||
地址 | 日本东京都 |